P產(chǎn)品分類RODUCT CATEGORY
計算機屏蔽電纜的防干擾性能測試需通過多維度評估,以下是關鍵測試項目及方法:
?屏蔽層連續(xù)性測試?
檢測屏蔽層電阻及完整性,確保無斷路或接觸不良(電阻值需符合標準上限)。
方法:直流電阻測試儀測量屏蔽層電阻,結(jié)合目檢或X射線檢查結(jié)構完整性。
?屏蔽效能測試?
?表面轉(zhuǎn)移阻抗(ZT)?:評估低頻屏蔽效果(ZT值越低越好),采用三同軸法(IEC 62153-4-3)。
?屏蔽衰減(SA)?:評估高頻屏蔽能力(衰減值越大越好),使用管中管法或GTEM室法(IEC 62153-4-4/4-7)。
?耦合衰減?:模擬實際干擾場景,測量電纜抗外部電磁耦合能力。
?接地性能測試?
接地電阻及均勻性測試,確保屏蔽層接地有效性(接地電阻≤1Ω)。
?基礎參數(shù)測試?
導體電阻、絕緣電阻、耐壓強度(如芯線-屏蔽層耐壓≥1500V AC)。
電容與時延偏差(確保信號同步,偏差<45ns/100m)。
?高頻抗干擾能力?
?近端串擾(NEXT)?/?遠端串擾(FEXT)?:評估線對間干擾抑制能力(超五類線需≥44dB@100MHz)。
?回波損耗?:檢測阻抗匹配性(值越大越好,減少信號反射)。
?機械性能?
彎曲試驗(彎曲半徑≥8倍纜徑)、耐磨性及拉伸強度測試。
?環(huán)境適應性?
耐溫性(-40℃~70℃)、耐油/耐酸堿測試,驗證環(huán)境下屏蔽層穩(wěn)定性。
注?:計算機屏蔽電纜(如TICW06/2009標準產(chǎn)品)需額外關注?不平衡衰減?(防共模干擾)及?局部放電測試?(中高壓場景)。
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